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金属电子逸出功测定仪

描述:一、主要实验内容
1、了解费米—狄拉克量子统计规律。
2、了解热电子发射的基本规律和掌握电子逸出功的测量方法。
3、用理查孙直线法测定金属钨电子的逸出功 <或逸出电位 >。
3、 研究二极管的伏安特性。
4、 用磁控条件测量电子荷质比。
5、 学习避开某些不易测常数而直接得到结果的实验方法。

更新时间:2024-09-02
产品型号:DYW-2
厂商性质:生产厂家
详情介绍

一、主要实验内容

1、了解费米—狄拉克量子统计规律。

2、了解热电子发射的基本规律和掌握电子逸出功的测量方法。

3、用理查孙直线法测定金属钨电子的逸出功 <或逸出电位 >。

3、 研究二管的伏安特性。

4、 用磁控条件测量电子荷质比。

5、 学习避开某些不易测常数而直接得到结果的实验方法。

二、主要技术参数

1、理想二极管灯丝采用纯钨丝,灯丝电流 0.50~ 0.80A,连续可调,分辨率 1mA;

2、阳极电压: DC 0~199.9V,连续可调, 精度: 0.1V, 三位半LCD显示

3、阳极电流测量表 0~1.999mA,分辨率 1μA,三位 半LCD显示

4、灯丝电流: DC 0~0.750 A,连续可调, 精度:1mA, 三位半LCD显示

5、磁控电流: DC 0~0.800 A,连续可调, 精度:1mA, 三位半LCD显示


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